透射光路測(cè)試板
簡(jiǎn)介：透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒有光學(xué)材料，光線通過空氣傳播，這樣就去除了色差和吸收問題，本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖，1組元到3組圖，6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡可用在NUV場(chǎng)合，而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。
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